梅特勒－托利多新一代 FBRM®：改變?cè)诰�顆粒測(cè)量模式

　　梅特勒-托利多很高興發(fā)布新版白皮書，其中介紹了使用新一代聚焦光束反射測(cè)量技術(shù)(FBRM®
)進(jìn)行的一系列實(shí)驗(yàn)。這些實(shí)驗(yàn)說明了最新技術(shù)的革新如何識(shí)別弦長(zhǎng)并糾正“被粘住的”顆粒，并增強(qiáng)動(dòng)態(tài)范圍，更好地理解關(guān)鍵過程參數(shù)，實(shí)現(xiàn)更快、更準(zhǔn)的優(yōu)化。

　　自1986年以來，F(xiàn)BRM一直用于跟蹤過程中顆粒大小、計(jì)數(shù)和形狀的變化。但是，在某些情況下，很難解釋得出的結(jié)果。弦長(zhǎng)度測(cè)量可對(duì)表面粗糙度敏感，“分割”弦長(zhǎng)度顯示顆粒小于實(shí)際大小。同樣地，粘到光學(xué)視窗的顆�？蓪�(dǎo)致意外的分布峰值。最后，在高濃度時(shí)，顆粒接近可降低精確度。這些問題的存在會(huì)阻礙用戶糾正關(guān)鍵過程參數(shù)（例如顆粒大小或成核度）的能力。

　　如三個(gè)獨(dú)特的實(shí)驗(yàn)所示，F(xiàn)BRM®G系列（包括G400和G600）可緩解這些問題。首先，“細(xì)顆粒、粗顆粒和雙峰分布的分辨率和精確度更高”，探討了準(zhǔn)確的弦長(zhǎng)分布信息如何實(shí)現(xiàn)更直觀的數(shù)據(jù)分析。“檢測(cè)和糾正粘在探頭視窗的顆粒”說明糾正不移動(dòng)或變化的顆粒如何增強(qiáng)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的一致性。在“集中顆粒系統(tǒng)的更高靈敏度”部分介紹了在高濃度下創(chuàng)建更窄、更準(zhǔn)確測(cè)量區(qū)域的光學(xué)和信號(hào)處理改進(jìn)。

　　這些實(shí)驗(yàn)都表明了下一代FBRM®技術(shù)如何增強(qiáng)分辨率、精確度和靈敏性，提供對(duì)在線顆粒系統(tǒng)的更精確理解，并加速過程優(yōu)化。如欲查看這些實(shí)驗(yàn)或者了解有關(guān)FBRM®G系列如何在在線顆粒測(cè)量中創(chuàng)建轉(zhuǎn)變模式的附加詳情，請(qǐng)?jiān)L問www.mt.com/fbrmgseries免費(fèi)下載白皮書。